永磁铁室温霍尔测试系统HSPM-07RT
HSPM-07RT室温永磁铁霍尔测试系统磁场大小:0.7T;温度选件:室温, 77K(液氮单点选件),样品接触方式:四探针样品卡或焊接样品卡。 HSPM-07RT室温永磁铁霍尔测试系统由高精度霍尔测试仪、室温永磁铁夹具平台、测试电脑及软件组成,可在固定磁场下实现霍尔效应的测量,系统结构桌面式结构设计、体积小,测试效率高,是实验室快速检测和工厂质检的不二选择。系统有77K液氮单点选件,提供样品在77K低温下完成霍尔效应测量。
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HSPM-07RT室温永磁铁霍尔测试系统磁场大小:0.7T;温度选件:室温, 77K(液氮单点选件),样品接触方式:四探针样品卡或焊接样品卡。 HSPM-07RT室温永磁铁霍尔测试系统由高精度霍尔测试仪、室温永磁铁夹具平台、测试电脑及软件组成,可在固定磁场下实现霍尔效应的测量,系统结构桌面式结构设计、体积小,测试效率高,是实验室快速检测和工厂质检的不二选择。系统有77K液氮单点选件,提供样品在77K低温下完成霍尔效应测量。
HSPM-07RT室温永磁铁霍尔测试系统由高精度霍尔测试仪、室温永磁铁夹具平台、测试电脑及软件组成,可在固定磁场下实现霍尔效应的测量,系统结构桌面式结构设计、体积小,测试效率高,是实验室快速检测和工厂质检的不二选择。系统有77K液氮单点选件,提供样品在77K低温下完成霍尔效应测量。
系统采用科学合理的共地设计,内部电学信号线全部采用三同轴线缆,保障了高阻半导体材料的测量,可以准确测量出样品的的载流子浓度迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。室温永磁铁夹具平台,可以轻松移动和翻转磁场,能同时满足快速霍尔和直流霍尔测试,采用PCB插拔样品卡设计,兼顾范德堡和霍尔巴样品。
系统特点:
• 磁场优于 0.7T(室温测量);磁场优于0.5T(液氮单点选件)
• 永磁铁通过滑轨移动,可以轻松翻转,同时兼顾快速霍尔和直流霍尔测试
• 简单的插拔样品卡设计,可实现快速方便的样品处理,兼顾霍尔巴和范德堡样品的霍尔测试
• 样品卡包含弹簧铍铜探针四探针样品卡、折弯钨探针四探针样品卡和焊接样品卡,满足不同样品测试需求
• 科学合理的共地和三同轴结构设计,保障了系统高阻测试性能,电阻可至100GΩ
• 测试腔有气路阀门,可通入氮气、氩气进行保护,也可抽取真空
• 可增添77K低温选件,测试液氮单点温度下的霍尔参数
测试材料:
• 热电材料:碲化铋、碲化铅、硅锗合金等
• 光伏材料/太阳能电池:A硅(单晶硅、非晶硅)、CIGS(铜铟镓硒)、碲化镉、钙钛矿等
• 有机材料:OFET、OLED等
• 透明导电金属氧化物TCO:ITO、AZO、ZnO、IGZO(铟镓锌氧化物)等
• 半导体材料:SiGe、InAs、SiC、InGaAs、GaN、SiC、InP、ZnO、Ga2O3等
• 二维材料:石墨烯、BN、MoS2等
参数和指标:
主机型号 | HSPM-07RT |
标准电阻范围 | 10mΩ-100GΩ |
迁移率 | 10-2 -106 cm2/VS |
载流子浓度 | 8x102 -8x1023/cm3 |
霍尔电压 | 分辨率为1μV |
电压激励范围 | 100nV ~ 10V |
电流激励范围 | 10pA ~ 100mA |
测试方法 | 范德堡或霍尔巴 |
样品测试 | 四探针样品卡样品尺寸:25mm*25mm 焊接样品卡样品尺寸:10mm*10mm 可选样品尺寸:50mm*50mm |
样品接触方式 | 手动探针扎针或焊接 |
样品温度 | 室温,可选77K单点 |
样品环境 | 气氛(氮气或氩气)或真空 |
磁场 | 0.7T(室温)0.5T(液氮单点) |
永磁铁运动方式 | 手动水平移动及翻转运动 |
磁铁间隙 | 20mm(室温) 30mm(77K单点选件) |
磁场均匀区 | 10mm*10mm*10mm优于5% |